荷兰埃因霍温，2012 年8月21日── JTAG科技公司是提供高密度印刷电路板测试和编程解决方案的供应商，该公司符合高性能边界扫描IEEE 1149.1标准要求的控制器产品线又增加一项新产品。这项新产品称作DataBlaster JT 37x7/PXIe，它支持日益流行的PXIe / Compact PCI-Express格式插槽，现在已经用于一些 按PXI（e）标准设计的最新自动测试设备。
为了与行业的需要与时俱进，JTAG科技公司已经研制了新的边界扫描控制器，以满足对快闪存储器、串行存储器和CPLD以及复杂的数字电路测试进行高速在系统中编程（ISP）的不断增长的需要。新的DataBlaster JT 37x7/PXIe使用JTAG科技公司专有的ETT（Enhanced Throughput Technology，即增强产量技术）系统，为用户持续提供速度高达40MHz的测试时钟，系统中还装有图像缓冲闪存存储器。
新的DataBlaster / PXIe与QuadPOD系统一起提供，它有四个同步的测试接入口（TAP），能够接入多个测试对象（待测部件）进行测试，或者接入四个单独的测试对象同时进行编程。JTAG 科技公司的所有SCIL模块都可以装到QuadPOD中，因此用户可以自行内配置测试接口（BDM、I2C等），或者配置混合信号测量模块（数字信号模块、模拟频率模块）。
随着JTAG /边界扫描功进入许多工业部门，包括汽车业直到粒子物理，其中许多需要要求很苛刻的功能测试，Peter van den Eijnden (MD)看到它的更多优势。 JTAG的数字和混合信号硬件与适合它们的环境配合起来，这也是JTAG科技公司的优先考虑。.
可扩展的DataBlaster JT 37x7/PXIe 有各种产品，其中JT 3707/PXIe是低成本的入门型号，它适合高速测试和可编程逻辑器件（PLD）在系统中进行编程。同类型的JT 3717/PXIe和JT 3727/PXIe，可以选配ETT模块，用于闪存装入系统后编程，闪存编程以及测试和PLD编程的产量很高。
