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GE检测控制技术参展2012传感器与MEMS国际会议
点击:10010来源: ceasia-china.com作者:Kenny Fu
时间:2019-12-12 22:02:14

2012年9月03日,北京讯2012传感器与MEMS国际会议,将于2011年9月13日-14日在江苏苏州独墅湖会议酒店隆重召开。GE检测控制技术将在本届展会上首次参与行业盛会 (展位8号),展示GE 在MEMS 领域的优秀产品和领先技术。

在此次展览会上,GE检测控制技术重点展出新一代MEMS扩散硅压力传感器及其应用。这些产品以其领先的高科技技术为汽车、医疗、过程控制等行业客户提供更环保,更智能,更高效的解决方案。

在展会期间,GE检测控制技术通过产品介绍、样品展示和观众互动交流等诸多方式,充分为与会者展示GE检测控制技术相关产品应用和先进技术。届时,我们的工程师和产品经理将为您作现场讲解和演示进行现场交流。

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